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包裝密封性測(cè)定儀(負(fù)壓抽真空法)適用于食品、制藥、器械、日化、汽車(chē)、電子元器件等行業(yè)的包裝袋、瓶等的密封試驗(yàn),亦可進(jìn)行經(jīng)跌落、耐壓試驗(yàn)后的試件的密封性能測(cè)試。了解詳情請(qǐng)致電:濟(jì)南蘭光
密封測(cè)試儀_包裝袋密封性測(cè)試儀_密封儀適用于食品、制藥、器械、日化、汽車(chē)、電子元器件等行業(yè)的包裝袋、瓶等的密封試驗(yàn),亦可進(jìn)行經(jīng)跌落、耐壓試驗(yàn)后的試件的密封性能測(cè)試。密封試驗(yàn)儀符合GB/T 15171、ASTM D3078標(biāo)準(zhǔn)。了解詳情請(qǐng)致電:濟(jì)南蘭光
正壓密封試驗(yàn)儀_密封儀_密封性測(cè)試儀適用于各種熱封、粘接工藝形成的軟包裝件、無(wú)菌包裝件等各封邊的封口強(qiáng)度、熱封質(zhì)量、以及整袋脹破壓力、密封泄漏性能的量化測(cè)定。了解詳情請(qǐng)致電:濟(jì)南蘭光
藥用塑料瓶負(fù)壓密封儀(labthink包裝測(cè)漏儀)適用于食品、制藥、器械、日化、汽車(chē)、電子元器件等行業(yè)的包裝袋、瓶等的密封試驗(yàn),亦可進(jìn)行經(jīng)跌落、耐壓試驗(yàn)后的試件的密封性能測(cè)試。藥用塑料瓶負(fù)壓密封儀符合GB/T 15171、ASTM D3078標(biāo)準(zhǔn)。咨詢(xún)
C660M電子元器件氣密性檢測(cè)儀采用正壓法測(cè)試原理,往產(chǎn)品內(nèi)充氣,通過(guò)觀察一定時(shí)間內(nèi)氣體壓強(qiáng)的變化來(lái)判斷電子元器件產(chǎn)品的氣密性。
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